5 当拆分对象难以进一步拆分且重量≤10mg 时,不必拆分,作为非均质检测单元,直接提交检测。
6 当拆分对象难以进一步拆分且体积≤1.2mm3时,不必拆分,可以整体制样(如:0805类贴片类元件 2.0×1.2×0.5mm 的元件不必拆分)作为非均质检测单元,直接提交检测。
7 表面处理层应尽量与本体分离(如涂层);对于确实无法分离的(如镀层),可对表面处理层进行初筛(如使用 X 射线荧光光谱仪(XRF)等手段),筛选合格则不拆分;筛选不合格,可使用非机械方法分离(如使用能溶解表面处理层而不能溶解本体材料的化溶液
学溶解提取)。
8 在满足检测结果有效性的前提下,对于经拆分后样品无法满足检测需求量时,可采取
适类,一同制样,直接提交检测
材质必须均匀。你的待测元素不均匀的话,多的地方和少的地方差别会较大。因为XRF光谱仪入射光线一般较窄,直径1-5微米,也就是说照射到样品的区域会很小,所以不均匀样品检测会不准确,当然主要也是看不均匀程度。
你的交错规律排列指的什么?如果是一层高分子,一层无机物,在一层高分子一层无机物,并且每层的厚度一定(比如层高分子都是10微米厚)。这样的可以在一定程度上看成是均匀的,但是用X荧光光谱仪测量还是有问题,因为X荧光透过不同物质有厚(某元素的X荧光透射不出来的厚度,原因是自吸收)的问题。